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codice articolo del costruttore | TFL0816-27N |
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Numero di parte futuro | FT-TFL0816-27N |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | TFL |
TFL0816-27N Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
genere | Thin Film |
Materiale: core | - |
Induttanza | 27nH |
Tolleranza | ±2% |
Valutazione attuale | 200mA |
Corrente - Saturazione | - |
Schermatura | Unshielded |
Resistenza DC (DCR) | 2 Ohm Max |
Q @ Freq | 15 @ 300MHz |
Frequenza - Autorisonante | 2GHz |
Giudizi | - |
temperatura di esercizio | - |
Frequenza di induttanza - Test | 200MHz |
Caratteristiche | - |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / caso | 0603 (1608 Metric) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 0603 (1608 Metric) |
Dimensione / Dimensione | 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) |
Altezza - Seduto (max) | 0.022" (0.55mm) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
TFL0816-27N Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | TFL0816-27N-FT |
LHLZ06TB101K
Taiyo Yuden
LHLZ06TB102J
Taiyo Yuden
LHLZ06TB150K
Taiyo Yuden
LHLZ06TB151K
Taiyo Yuden
LHLZ06TB1R0M
Taiyo Yuden
LHLZ06TB1R5M
Taiyo Yuden
LHLZ06TB220K
Taiyo Yuden
LHLZ06TB221K
Taiyo Yuden
LHLZ06TB2R2M
Taiyo Yuden
LHLZ06TB330K
Taiyo Yuden
XC3S500E-4VQG100I
Xilinx Inc.
A54SX32A-2TQG176I
Microsemi Corporation
M2GL025T-1FGG484
Microsemi Corporation
10AX032E3F29I2SG
Intel
EP4CGX22BF14C8N
Intel
EP4SE530H40I3N
Intel
5SGXEA4H2F35I2N
Intel
A40MX02-1PQ100M
Microsemi Corporation
LFEC10E-4F256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX130GF40C4NES
Intel