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codice articolo del costruttore | LAH 25-NP |
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Numero di parte futuro | FT-LAH 25-NP |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LAH |
LAH 25-NP Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 8A, 12A, 25A (Selectable) |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.2% |
Precisione | ±0.3% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 0.5µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 35mA |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 25-NP Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LAH 25-NP-FT |
HTFS 200-P
LEM USA Inc.
HTFS 400-P
LEM USA Inc.
HTFS 800-P
LEM USA Inc.
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
HO 6-P
LEM USA Inc.
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
XC4010XL-3TQ144I
Xilinx Inc.
LCMXO2-1200ZE-3TG144I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2C70F672I8
Intel
EP3C16F256C8N
Intel
10AX032H4F34E3LG
Intel
XC5VLX110-1FF1760C
Xilinx Inc.
M2GL060TS-1FGG676T2
Microsemi Corporation
LFEC10E-5QN208C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-95E-6FN1156C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX090U3F45E2LG
Intel