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codice articolo del costruttore | HO 25-P |
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Numero di parte futuro | FT-HO 25-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HO-P |
HO 25-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 25A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 250kHz |
Linearità | ±0.5% |
Precisione | ±1.4% |
Tensione - Fornitura | 5V |
Tempo di risposta | 3.5µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 25mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 105°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module, Single Pass Through |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HO 25-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HO 25-P-FT |
SI8502-C-GM
Silicon Labs
SI8502-C-IM
Silicon Labs
SI8502-C-IMR
Silicon Labs
SI8503-B-GM
Silicon Labs
SI8503-C-GM
Silicon Labs
SI8503-C-IM
Silicon Labs
SI8504-B-IM
Silicon Labs
SI8505-B-IM
Silicon Labs
SI8506-B-IM
Silicon Labs
SI8506-C-IM
Silicon Labs
LFE2-12E-5QN208C
Lattice Semiconductor Corporation
A3PE1500-FG484
Microsemi Corporation
5SGXEA3K3F40I3N
Intel
5SEE9F45C2L
Intel
5SGXMA7H1F35C2N
Intel
XC7A25T-2CPG238C
Xilinx Inc.
LFE3-150EA-8FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
LFXP2-30E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX057K1F40E1SG
Intel
EP20K200EBC356-2
Intel