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codice articolo del costruttore | LAH 100-P |
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Numero di parte futuro | FT-LAH 100-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LAH |
LAH 100-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 100A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.25% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 0.5µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 60mA |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 100-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LAH 100-P-FT |
HTFS 400-P
LEM USA Inc.
HTFS 800-P
LEM USA Inc.
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
HO 6-P
LEM USA Inc.
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
A1010B-2VQG80C
Microsemi Corporation
LFXP3C-3T100I
Lattice Semiconductor Corporation
A54SX08A-2PQG208
Microsemi Corporation
M7A3P1000-1PQ208I
Microsemi Corporation
10AX027E3F27I2SG
Intel
5SGXEA5H2F35C2N
Intel
XC6VLX130T-2FF484I
Xilinx Inc.
AGL1000V5-CS281
Microsemi Corporation
A42MX16-1PQG160M
Microsemi Corporation
10AX090N2F40I2LG
Intel