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codice articolo del costruttore | LA 55-P |
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Numero di parte futuro | FT-LA 55-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA |
LA 55-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.65% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 60mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module, Single Pass Through |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 55-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LA 55-P-FT |
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
M1AGL600V2-FG484I
Microsemi Corporation
A14V25A-VQG100C
Microsemi Corporation
10M50DAF484I7G
Intel
XC2VP7-7FFG896C
Xilinx Inc.
A42MX24-3PQ160
Microsemi Corporation
APA300-FGG144M
Microsemi Corporation
LFEC3E-4QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-6SE-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C4N
Intel
EP20K400CB652I8ES
Intel