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codice articolo del costruttore | LA 55-P |
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Numero di parte futuro | FT-LA 55-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA |
LA 55-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.65% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 60mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module, Single Pass Through |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 55-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LA 55-P-FT |
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
A1010B-2VQ80C
Microsemi Corporation
XC4005E-1TQ144C
Xilinx Inc.
XC2S15-5VQ100I
Xilinx Inc.
A3PE600-FG484
Microsemi Corporation
A3P400-2FG256
Microsemi Corporation
A3PN250-Z2VQG100I
Microsemi Corporation
EP2C35U484I8
Intel
EP3C25U256C6N
Intel
10AX115N4F40E3SG
Intel
EP2AGX190FF35I3N
Intel