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codice articolo del costruttore | HAL 50-S |
---|---|
Numero di parte futuro | FT-HAL 50-S |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HAL |
HAL 50-S Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 50kHz |
Linearità | ±0.5% |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | ±15V |
Tempo di risposta | 3µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 25mA |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Chassis Mount |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAL 50-S Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HAL 50-S-FT |
SI8511-B-GM
Silicon Labs
SI8511-C-IM
Silicon Labs
SI8511-C-IMR
Silicon Labs
SI8512-B-GM
Silicon Labs
SI8512-C-IM
Silicon Labs
SI8512-C-IMR
Silicon Labs
SI8513-B-GM
Silicon Labs
SI8513-C-GM
Silicon Labs
SI8513-C-IM
Silicon Labs
SI8513-C-IMR
Silicon Labs
XC2S150-5FG256I
Xilinx Inc.
XC7S25-1FTGB196I
Xilinx Inc.
XA7S50-2FGGA484I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
AFS090-1FG256
Microsemi Corporation
5SGXEA3K1F35C1N
Intel
EP2SGX90EF1152I4N
Intel
XC6SLX25T-2CSG324I
Xilinx Inc.
AX1000-FGG676M
Microsemi Corporation
LFE2-35SE-6F484I
Lattice Semiconductor Corporation