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codice articolo del costruttore | LA200-P |
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Numero di parte futuro | FT-LA200-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA |
LA200-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 200A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 100kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.40% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 16mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA200-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LA200-P-FT |
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
HO 6-P
LEM USA Inc.
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
XC3S50-5TQG144C
Xilinx Inc.
LCMXO2-4000HE-4TG144C
Lattice Semiconductor Corporation
AT40K20AL-1BQC
Microchip Technology
LCMXO2280C-4TN100C
Lattice Semiconductor Corporation
XCKU035-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
M1AGL1000V2-FGG484
Microsemi Corporation
A3P250-PQG208I
Microsemi Corporation
EP1K10TC100-2N
Intel
LFE3-17EA-7LFN484I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX60CF780C4N
Intel