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codice articolo del costruttore | LA 100-TP |
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Numero di parte futuro | FT-LA 100-TP |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA |
LA 100-TP Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 100A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.45% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 10mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 100-TP Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LA 100-TP-FT |
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
XCS30-3TQ144C
Xilinx Inc.
A54SX16A-FFG144
Microsemi Corporation
AX500-1FGG484
Microsemi Corporation
M2GL090S-1FG484I
Microsemi Corporation
EP20K300EFI672-2N
Intel
5SGXMB6R1F40C2LN
Intel
EP4SGX360KF40C3
Intel
A40MX04-PL44I
Microsemi Corporation
LFE2M35E-5FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
5SGSMD3H3F35I3L
Intel