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codice articolo del costruttore | HY 50-P |
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Numero di parte futuro | FT-HY 50-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HY |
HY 50-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 50kHz |
Linearità | ±1% |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | ±15V |
Tempo di risposta | 3µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 10mA |
temperatura di esercizio | -10°C ~ 80°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HY 50-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HY 50-P-FT |
HAL 50-S
LEM USA Inc.
HAL 500-S
LEM USA Inc.
HAL 200-S
LEM USA Inc.
HAIS 100-TP
LEM USA Inc.
HAIS 50-TP
LEM USA Inc.
HAIS 100-P
LEM USA Inc.
HAIS 200-P
LEM USA Inc.
HAIS 150-P
LEM USA Inc.
HAIS 50-P
LEM USA Inc.
HAIS 400-P
LEM USA Inc.
A54SX32-TQ144M
Microsemi Corporation
A3P400-1FGG256I
Microsemi Corporation
M2GL025T-VFG400I
Microsemi Corporation
LCMXO640C-3FT256I
Lattice Semiconductor Corporation
10M50DCF256C8G
Intel
A1020B-PLG44I
Microsemi Corporation
XC5VLX30-3FF324C
Xilinx Inc.
LFE2M20E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX066N4F40E3SG
Intel
EP3SE110F780I4
Intel