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codice articolo del costruttore | HY 25-P |
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Numero di parte futuro | FT-HY 25-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HY |
HY 25-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 25A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 50kHz |
Linearità | ±1% |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 3µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 10mA |
temperatura di esercizio | -10°C ~ 80°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HY 25-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HY 25-P-FT |
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
HAL 500-S
LEM USA Inc.
HAL 200-S
LEM USA Inc.
HAIS 100-TP
LEM USA Inc.
HAIS 50-TP
LEM USA Inc.
HAIS 100-P
LEM USA Inc.
HAIS 200-P
LEM USA Inc.
HAIS 150-P
LEM USA Inc.
XC6SLX100T-N3CSG484C
Xilinx Inc.
M1AGL250V2-VQG100
Microsemi Corporation
EP20K200EFC672-1X
Intel
EP20K400EFC672-2
Intel
5SGXMA7K3F40C2
Intel
5SGXMB9R1H43I2N
Intel
EP4CGX30BF14I7
Intel
A40MX02-3PL44
Microsemi Corporation
LFE2-12E-5F256C
Lattice Semiconductor Corporation
5AGXBA3D4F31C5N
Intel