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codice articolo del costruttore | HASS 500-S |
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Numero di parte futuro | FT-HASS 500-S |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HASS |
HASS 500-S Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 500A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 50kHz |
Linearità | ±0.5% |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | 5V |
Tempo di risposta | 3µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 19mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HASS 500-S Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HASS 500-S-FT |
LF 1005-S/SP21
LEM USA Inc.
LESR 50-NP
LEM USA Inc.
LESR 15-NP
LEM USA Inc.
LESR 25-NP
LEM USA Inc.
LESR 6-NP
LEM USA Inc.
LESR 50-NP KIT
LEM USA Inc.
LESR 15-NP KIT
LEM USA Inc.
LESR 25-NP KIT
LEM USA Inc.
LESR 6-NP KIT
LEM USA Inc.
LAH 25-NP
LEM USA Inc.
A54SX32-1TQG144M
Microsemi Corporation
XC4010E-1BG225C
Xilinx Inc.
A1020B-2PLG68C
Microsemi Corporation
A14V15A-VQ100C
Microsemi Corporation
EP1AGX35CF484C6
Intel
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
5SGSED8N2F45I2N
Intel
EP3SE260F1152I4N
Intel
LFXP6E-4F256C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-70E-5FN672C
Lattice Semiconductor Corporation