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codice articolo del costruttore | WSE12-3P1111 |
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Numero di parte futuro | FT-WSE12-3P1111 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | W12-3 |
WSE12-3P1111 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Metodo di sensing | Through-Beam |
Distanza di rilevamento | 787.402" (20m) |
Tensione - Fornitura | 10V ~ 30V |
Tempo di risposta | 330µs |
Configurazione di uscita | PNP |
Metodo di connessione | Cable |
Protezione dall'ingresso | IP66 |
Lunghezza del cavo | 78.74" (2m) |
Fonte di luce | Infrared (880nm) |
Tipo di regolazione | Adjustable, 5-Turn Potentiometer |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 60°C (TA) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
WSE12-3P1111 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | WSE12-3P1111-FT |
WLG4-3F3234S05
SICK, Inc.
WLG4-3F3434
SICK, Inc.
WLG4-3K2232
SICK, Inc.
WLG4-3N1382
SICK, Inc.
WLG4-3P1332
SICK, Inc.
WLG4-3P1482
SICK, Inc.
WLG4-3P2132
SICK, Inc.
WLG4-3P2132S07
SICK, Inc.
WLG4-3P2182
SICK, Inc.
WLG4S-3E1134H
SICK, Inc.
XC4003E-3PQ100C
Xilinx Inc.
XC6SLX16-3FT256I
Xilinx Inc.
XC4028XL-3HQ304I
Xilinx Inc.
A3P1000-2FGG484
Microsemi Corporation
M7AFS600-1FG484
Microsemi Corporation
LFE5UM5G-25F-8BG381C
Lattice Semiconductor Corporation
A3P250L-1VQ100
Microsemi Corporation
A54SX08-VQG100I
Microsemi Corporation
EP1S10F484I6N
Intel
5SGXMA7N3F45I4N
Intel