casa / prodotti / Circuiti integrati (circuiti integrati) / Logica - Logica speciale / SN74BCT8373ADWR
codice articolo del costruttore | SN74BCT8373ADWR |
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Numero di parte futuro | FT-SN74BCT8373ADWR |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | 74BCT |
SN74BCT8373ADWR Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
Tipo di logica | Scan Test Device with D-Type Latches |
Tensione di alimentazione | 4.5V ~ 5.5V |
Numero di bit | 8 |
temperatura di esercizio | 0°C ~ 70°C |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / caso | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 24-SOIC |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ADWR Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | SN74BCT8373ADWR-FT |
SSTV16857CGT
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTV16857DGG,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,118
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,512
NXP USA Inc.
SSTV16857DGG,518
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,112
NXP USA Inc.
SSTV16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVA16857AG
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLF
IDT, Integrated Device Technology Inc
SSTVA16857AGLFT
IDT, Integrated Device Technology Inc
AGL015V5-QNG68
Microsemi Corporation
XC7A100T-L1FTG256I
Xilinx Inc.
XC7A15T-1CSG325I
Xilinx Inc.
10M50DCF484C7G
Intel
5SGXEA3K3F40C2L
Intel
5SGSMD6N3F45C4N
Intel
LFE2-50E-7F484C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX057K3F40E2LG
Intel
EP1K100QC208-1N
Intel
EP20K200QC208-2
Intel