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Texas Instruments SN74BCT8373ADWR

Numero parte MFG
SN74BCT8373ADWR
quantità disponibile
14310 pezzi
Prezzo di riferimento
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Data di spedizione
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fabbricante
Texas Instruments
Breve descrizione
74BCT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Stato senza piombo / Stato RoHS
Conformità RoHS (senza piombo)
Livello di sensibilità all'umidità (MSL)
1 (illimitato)
Codice data (D / C)
Nuovo
categoria di prodotto
Logica - Logica speciale
Risorsa stock
Distributore in franchising
Garanzia
360 giorni di garanzia di qualità
scheda dati
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SN74BCT8373ADWR specificazioni

codice articolo del costruttore SN74BCT8373ADWR
Numero di parte futuro FT-SN74BCT8373ADWR
SPQ / MOQ Contattaci
Materiale di imballaggio Reel/Tray/Tube/Others
serie 74BCT
SN74BCT8373ADWR Stato (ciclo di vita) Disponibile
Stato parte Obsolete
Tipo di logica Scan Test Device with D-Type Latches
Tensione di alimentazione 4.5V ~ 5.5V
Numero di bit 8
temperatura di esercizio 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio Surface Mount
Pacchetto / caso 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore 24-SOIC
Paese d'origine USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8373ADWR Peso Contattaci
Numero parte di ricambio SN74BCT8373ADWR-FT

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