casa / prodotti / Circuiti integrati (circuiti integrati) / Logica - Infradito / SCAN18374TSSC
codice articolo del costruttore | SCAN18374TSSC |
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Numero di parte futuro | FT-SCAN18374TSSC |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | SCAN |
SCAN18374TSSC Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
Funzione | Standard |
genere | D-Type |
Tipo di uscita | Tri-State, Non-Inverted |
Numero di elementi | 2 |
Numero di bit per elemento | 9 |
Frequenza di clock | 100MHz |
Ritardo massimo di propagazione @ V, Max CL | 10.3ns @ 5V, 50pF |
Tipo di trigger | Positive Edge |
Corrente - Uscita alta, bassa | 24mA, 48mA |
Tensione - Fornitura | 4.5V ~ 5.5V |
Corrente - Quiescente (Iq) | 16µA |
Capacità di ingresso | 4pF |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C (TA) |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / caso | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SCAN18374TSSC Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | SCAN18374TSSC-FT |
74VHC74SJ
ON Semiconductor
74VHC74SJX
ON Semiconductor
MM74HC74ASJX
ON Semiconductor
74AC74SJ
ON Semiconductor
74AC74SJX
ON Semiconductor
74ACT74SJ
ON Semiconductor
74ACT74SJX
ON Semiconductor
74ACTQ74SJ
ON Semiconductor
74ACTQ74SJX
ON Semiconductor
74F74SJ
ON Semiconductor
A1010B-PQG100C
Microsemi Corporation
XC2V40-5FGG256I
Xilinx Inc.
XC6SLX100-L1FG484I
Xilinx Inc.
EP4CE115F23C7N
Intel
5SGXEA3K3F40I3L
Intel
5SGXMA3K1F35C2N
Intel
EP3SL200F1152I4L
Intel
LFE2-50E-6F672C
Lattice Semiconductor Corporation
EP2AGX65CU17C5N
Intel
EPF10K10QI208-4
Intel