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codice articolo del costruttore | NA1-PK3-PN-J |
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Numero di parte futuro | FT-NA1-PK3-PN-J |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
NA1-PK3-PN-J Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Metodo di sensing | Cross-beam |
Distanza di rilevamento | 3.937" (100mm) |
Tensione - Fornitura | 12V ~ 24V |
Tempo di risposta | 10ms |
Configurazione di uscita | PNP - Open Collector |
Metodo di connessione | Cable |
Protezione dall'ingresso | IP62 |
Lunghezza del cavo | 78.74" (2m) |
Fonte di luce | Infrared |
Tipo di regolazione | - |
temperatura di esercizio | -10°C ~ 55°C |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
NA1-PK3-PN-J Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | NA1-PK3-PN-J-FT |
GL6-P4112
SICK, Inc.
EL3-F2415
SICK, Inc.
ET3-N4215
SICK, Inc.
EL3-E2415
SICK, Inc.
EL4-P2638
SICK, Inc.
EL3-F2438
SICK, Inc.
EL3-F2428
SICK, Inc.
ET3-E3228
SICK, Inc.
ET3-P4228
SICK, Inc.
EL3-P2428
SICK, Inc.
XCKU5P-3FFVA676E
Xilinx Inc.
XC6SLX100T-4FGG900C
Xilinx Inc.
XCV1600E-7FG900I
Xilinx Inc.
XC7A50T-1FGG484I
Xilinx Inc.
M1A3P600-2FG256
Microsemi Corporation
A3P125-2PQ208
Microsemi Corporation
LCMXO2-4000ZE-1QN84I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO1200E-3B256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C2N
Intel
EP1S30F780I6
Intel