casa / prodotti / Circuiti integrati (circuiti integrati) / Acquisizione dati - Potenziometri digitali / N57L5125TBD50TG
codice articolo del costruttore | N57L5125TBD50TG |
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Numero di parte futuro | FT-N57L5125TBD50TG |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
N57L5125TBD50TG Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
rastremazione | Linear |
Configurazione | Potentiometer |
Numero di circuiti | 1 |
Numero di rubinetti | 32 |
Resistenza (ohm) | 50k |
Interfaccia | Up/Down (U/D, CS) |
Tipo di memoria | - |
Tensione - Fornitura | 2.7V ~ 5.5V |
Caratteristiche | - |
Tolleranza | - |
Coefficiente di temperatura (tipo) | 30 ppm/°C |
Resistance - Wiper (Ohms) (Typ) | 80 |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Pacchetto / caso | SOT-23-6 |
Pacchetto dispositivo fornitore | SOT-23-6 |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
N57L5125TBD50TG Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | N57L5125TBD50TG-FT |
CAT5111ZI00
ON Semiconductor
CAT5111ZI50
ON Semiconductor
CAT5112LI10
ON Semiconductor
CAT5112VI-00-G
ON Semiconductor
CAT5112VI-00-T3
ON Semiconductor
CAT5112VI-10-G
ON Semiconductor
CAT5112VI-50-G
ON Semiconductor
CAT5112VI-50-T3
ON Semiconductor
CAT5112VI00
ON Semiconductor
CAT5112VI10
ON Semiconductor
A40MX04-VQ80
Microsemi Corporation
LCMXO2-2000ZE-3TG100C
Lattice Semiconductor Corporation
XC2S200-5FG456I
Xilinx Inc.
M1A3P600-PQ208
Microsemi Corporation
EP3C10F256I7
Intel
EP4SGX360KF43I3N
Intel
5SGSMD5H2F35C3N
Intel
10AX090N1F40E1SG
Intel
EP2AGX95EF35C5
Intel
EP1AGX50DF780C6
Intel