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codice articolo del costruttore | MLF2012DR47JT000 |
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Numero di parte futuro | FT-MLF2012DR47JT000 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | MLF |
MLF2012DR47JT000 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
genere | Multilayer |
Materiale: core | Ferrite |
Induttanza | 470nH |
Tolleranza | ±5% |
Valutazione attuale | 200mA |
Corrente - Saturazione | - |
Schermatura | Shielded |
Resistenza DC (DCR) | 500 mOhm Max |
Q @ Freq | 25 @ 25MHz |
Frequenza - Autorisonante | 160MHz |
Giudizi | - |
temperatura di esercizio | -55°C ~ 125°C |
Frequenza di induttanza - Test | 25MHz |
Caratteristiche | - |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / caso | 0805 (2012 Metric) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 0805 (2012 Metric) |
Dimensione / Dimensione | 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) |
Altezza - Seduto (max) | 0.057" (1.45mm) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MLF2012DR47JT000 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | MLF2012DR47JT000-FT |
MLF2012DR82M
TDK Corporation
MLF2012E5R6M
TDK Corporation
MLF2012A1R0JT000
TDK Corporation
MLF2012A1R0JTD25
TDK Corporation
MLF2012A1R0KTD25
TDK Corporation
MLF2012A1R0MT000
TDK Corporation
MLF2012A1R0MTD25
TDK Corporation
MLF2012A1R2JT000
TDK Corporation
MLF2012A1R2JTD25
TDK Corporation
MLF2012A1R2KT000
TDK Corporation
XC3S500E-4VQG100I
Xilinx Inc.
A54SX32A-2TQG176I
Microsemi Corporation
M2GL025T-1FGG484
Microsemi Corporation
10AX032E3F29I2SG
Intel
EP4CGX22BF14C8N
Intel
EP4SE530H40I3N
Intel
5SGXEA4H2F35I2N
Intel
A40MX02-1PQ100M
Microsemi Corporation
LFEC10E-4F256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX130GF40C4NES
Intel