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codice articolo del costruttore | LAH 125-P |
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Numero di parte futuro | FT-LAH 125-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LAH |
LAH 125-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 125A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 100kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.41% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 144mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 125-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LAH 125-P-FT |
F02P050S05
Tamura
F01P015S05L
Tamura
F01P025S05L
Tamura
F01P006S05L
Tamura
F01P015S05
Tamura
F01P006S05
Tamura
F01P025S05
Tamura
F01P050S05
Tamura
F01P050S05L
Tamura
SI8501-B-GM
Silicon Labs
A1010B-2VQ80C
Microsemi Corporation
XC4005E-1TQ144C
Xilinx Inc.
XC2S15-5VQ100I
Xilinx Inc.
A3PE600-FG484
Microsemi Corporation
A3P400-2FG256
Microsemi Corporation
A3PN250-Z2VQG100I
Microsemi Corporation
EP2C35U484I8
Intel
EP3C25U256C6N
Intel
10AX115N4F40E3SG
Intel
EP2AGX190FF35I3N
Intel