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codice articolo del costruttore | LA 55-TP/SP27 |
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Numero di parte futuro | FT-LA 55-TP/SP27 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA |
LA 55-TP/SP27 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Current |
sensibilità | - |
Frequenza | DC ~ 200kHz |
Linearità | ±0.15% |
Precisione | ±0.65% |
Tensione - Fornitura | ±12V ~ 15V |
Tempo di risposta | 1µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 35mA |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 55-TP/SP27 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LA 55-TP/SP27-FT |
F01P015S05L
Tamura
F01P025S05L
Tamura
F01P006S05L
Tamura
F01P015S05
Tamura
F01P006S05
Tamura
F01P025S05
Tamura
F01P050S05
Tamura
F01P050S05L
Tamura
SI8501-B-GM
Silicon Labs
SI8501-C-GM
Silicon Labs
XC6SLX4-2TQG144C
Xilinx Inc.
LCMXO2280C-3T100C
Lattice Semiconductor Corporation
LFEC1E-3TN100I
Lattice Semiconductor Corporation
XC7K410T-2FBG676I
Xilinx Inc.
10CL040ZU484I8G
Intel
EP4CGX30CF23C6
Intel
XC7VX485T-L2FFG1158E
Xilinx Inc.
XC4VFX20-10FFG672C
Xilinx Inc.
A54SX08A-1TQ100
Microsemi Corporation
10M08DCU324I7G
Intel