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codice articolo del costruttore | HX 50-P |
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Numero di parte futuro | FT-HX 50-P |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HX |
HX 50-P Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | AC/DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Open Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | 50kHz |
Linearità | ±1% |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | ±15V |
Tempo di risposta | 3µs |
Corrente - Alimentazione (max) | 15mA |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 85°C |
Polarizzazione | Bidirectional |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HX 50-P Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HX 50-P-FT |
HAIS 100-P
LEM USA Inc.
HAIS 200-P
LEM USA Inc.
HAIS 150-P
LEM USA Inc.
HAIS 50-P
LEM USA Inc.
HAIS 400-P
LEM USA Inc.
GHS 10-SME
LEM USA Inc.
GHS 12-SME
LEM USA Inc.
GHS 16-SME
LEM USA Inc.
GHS 20-SME
LEM USA Inc.
DHR 100 C5
LEM USA Inc.
LFEC3E-4T144C
Lattice Semiconductor Corporation
XC6SLX45-3FGG484C
Xilinx Inc.
XC7A75T-1FGG484I
Xilinx Inc.
A3P1000-FGG256I
Microsemi Corporation
M1A3P1000-2PQG208I
Microsemi Corporation
MPF300TLS-FCG1152I
Microsemi Corporation
M7A3P1000-FGG144I
Microsemi Corporation
A40MX02-3PQG100
Microsemi Corporation
LFE3-35EA-9FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX022E3F27I1SG
Intel