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codice articolo del costruttore | HAL503S-E |
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Numero di parte futuro | FT-HAL503S-E |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | HAL® 5xy |
HAL503S-E Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
Funzione | Latch |
Tecnologia | Hall Effect |
Polarizzazione | South Pole |
Gamma di rilevamento | 10mT Trip, -10mT Release |
Condizione di test | 25°C |
Tensione - Fornitura | 3.8V ~ 24V |
Corrente - Alimentazione (max) | 4.2mA |
Corrente - Uscita (max) | 20mA |
Tipo di uscita | Open Drain |
Caratteristiche | Temperature Compensated |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 140°C (TA) |
Pacchetto / caso | TO-243AA, Variant |
Pacchetto dispositivo fornitore | SOT-89B-1 |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAL503S-E Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | HAL503S-E-FT |
OMH3020B
TT Electronics/Optek Technology
OMH3019S
TT Electronics/Optek Technology
OMH3020S
TT Electronics/Optek Technology
OMH3075
TT Electronics/Optek Technology
OMH3040
TT Electronics/Optek Technology
OHS3177U
TT Electronics/Optek Technology
DRV5013ADELPGQ1
Texas Instruments
DRV5023BIELPGQ1
Texas Instruments
DRV5023BIQLPGQ1
Texas Instruments
TSH190CT B0G
Taiwan Semiconductor Corporation
XC4006E-2PQ208I
Xilinx Inc.
M2GL060-1FCSG325
Microsemi Corporation
A54SX72A-PQ208I
Microsemi Corporation
EP1S20B672C7
Intel
5SGXEA3K2F40C2L
Intel
5SGSMD3E2H29I3N
Intel
XC7VX485T-2FFG1761I
Xilinx Inc.
A3P600L-1FGG144I
Microsemi Corporation
EP1C4F324C7
Intel
EP4CGX30CF19I7
Intel