codice articolo del costruttore | H21B6 |
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Numero di parte futuro | FT-H21B6 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
H21B6 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
Distanza di rilevamento | 0.118" (3mm) |
Metodo di sensing | Transmissive |
Configurazione di uscita | Photodarlington |
Corrente - Avanti DC (Se) (Max) | 50mA |
Corrente - Collector (Ic) (Max) | 40mA |
Voltage - Collector Emitter Breakdown (Max) | 55V |
Tempo di risposta | 7µs, 45µs |
temperatura di esercizio | -55°C ~ 100°C |
Tipo di montaggio | Through Hole, Flange |
Pacchetto / caso | Slotted, PC Pins |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
H21B6 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | H21B6-FT |
WF30-95B416
SICK, Inc.
WF3T-B4210
SICK, Inc.
WF5-40B410
SICK, Inc.
WF5-40B416
SICK, Inc.
WF5-60B410
SICK, Inc.
WF5-60B416
SICK, Inc.
WF5-95B410
SICK, Inc.
WF5-95B416
SICK, Inc.
WF50-40B410
SICK, Inc.
WF50-40B416
SICK, Inc.
A1425A-PQG100I
Microsemi Corporation
XC3S200A-4FTG256C
Xilinx Inc.
XC6SLX45-L1FGG484I
Xilinx Inc.
M1A3P1000-1FGG484
Microsemi Corporation
EP4CE10U14I7N
Intel
EP1C12F256C7
Intel
5SGXEABN2F45C2N
Intel
EP4SGX360NF45C2N
Intel
LFE2-50SE-5FN484I
Lattice Semiconductor Corporation
AT6003-4JI
Microchip Technology