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codice articolo del costruttore | GTE10-N4211 |
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Numero di parte futuro | FT-GTE10-N4211 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | G10 |
GTE10-N4211 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Metodo di sensing | Proximity |
Distanza di rilevamento | 0.787" ~ 51.181" (20mm ~ 1.3m) |
Tensione - Fornitura | 10V ~ 30V |
Tempo di risposta | 500µs |
Configurazione di uscita | NPN |
Metodo di connessione | Connector, M12 |
Protezione dall'ingresso | IP67 |
Lunghezza del cavo | - |
Fonte di luce | Red (625nm) |
Tipo di regolazione | Adjustable, Potentiometer |
temperatura di esercizio | -30°C ~ 60°C (TA) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GTE10-N4211 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | GTE10-N4211-FT |
GRTE18S-N2317
SICK, Inc.
GRTE18S-N231Z
SICK, Inc.
GRTE18S-N2347
SICK, Inc.
GRTE18S-N234Z
SICK, Inc.
GRTE18S-N2362
SICK, Inc.
GRTE18S-N2367
SICK, Inc.
GRTE18S-N236Z
SICK, Inc.
GRTE18S-P1312
SICK, Inc.
GRTE18S-P1317
SICK, Inc.
GRTE18S-P1342
SICK, Inc.
A54SX16A-1FG144I
Microsemi Corporation
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
EP3SL70F484I4
Intel
EP3C5F256A7N
Intel
EP4CE15M9C7N
Intel
XC4VFX20-11FFG672I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG676
Microsemi Corporation
LFE2-35E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10M08DAU324I7G
Intel
5AGTFD7H3F35I5N
Intel