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codice articolo del costruttore | GRSE18-N2427 |
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Numero di parte futuro | FT-GRSE18-N2427 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | GR18 |
GRSE18-N2427 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Metodo di sensing | Through-Beam |
Distanza di rilevamento | 393.701" (10m) |
Tensione - Fornitura | 10V ~ 30V |
Tempo di risposta | 500µs |
Configurazione di uscita | NPN |
Metodo di connessione | Connector, M12 |
Protezione dall'ingresso | IP67 |
Lunghezza del cavo | - |
Fonte di luce | Infrared (880nm) |
Tipo di regolazione | Adjustable, Potentiometer |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 55°C (TA) |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GRSE18-N2427 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | GRSE18-N2427-FT |
GL6-N1112
SICK, Inc.
GL6-N1211
SICK, Inc.
GL6-N1212
SICK, Inc.
GL6-N4112
SICK, Inc.
GL6-N4211
SICK, Inc.
GL6-N4212
SICK, Inc.
GL6-N6211
SICK, Inc.
GL6-N6212
SICK, Inc.
GL6-P1111
SICK, Inc.
GL6-P1112
SICK, Inc.
AT6010A-4AI
Microchip Technology
A54SX16A-TQ144M
Microsemi Corporation
XA6SLX25T-3FGG484Q
Xilinx Inc.
AGL030V2-QNG48I
Microsemi Corporation
A3P1000-1PQ208
Microsemi Corporation
M1A3P600-1PQ208I
Microsemi Corporation
EP2C50F672C8N
Intel
EP3C25F256C7
Intel
EP1AGX90EF1152I6N
Intel
LFE2-6E-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation