casa / prodotti / Sensori, trasduttori / Sensori magnetici - Interruttori (a stato solido) / DRV5013ADQDBZR
codice articolo del costruttore | DRV5013ADQDBZR |
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Numero di parte futuro | FT-DRV5013ADQDBZR |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
DRV5013ADQDBZR Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Funzione | Latch |
Tecnologia | Hall Effect |
Polarizzazione | South Pole |
Gamma di rilevamento | 5mT Trip, -5mT Release |
Condizione di test | -40°C ~ 125°C |
Tensione - Fornitura | 2.7V ~ 38V |
Corrente - Alimentazione (max) | 2.7mA (Typ) |
Corrente - Uscita (max) | 30mA |
Tipo di uscita | Open Drain |
Caratteristiche | Temperature Compensated |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 125°C (TA) |
Pacchetto / caso | TO-236-3, SC-59, SOT-23-3 |
Pacchetto dispositivo fornitore | SOT-23-3 |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
DRV5013ADQDBZR Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | DRV5013ADQDBZR-FT |
AD505-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD506-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD520-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD521-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD522-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD523-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD524-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD604-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD605-02E
NVE Corp/Sensor Products
AD606-02E
NVE Corp/Sensor Products
XCV200-5FG256I
Xilinx Inc.
LCMXO1200C-4FTN256C
Lattice Semiconductor Corporation
A3P250L-1VQ100
Microsemi Corporation
10M50DAF256C7G
Intel
EPF6010AFC256-1
Intel
5SGSMD6K2F40C3N
Intel
10M50DAF672I7G
Intel
XC2V2000-5FFG896I
Xilinx Inc.
A42MX09-3TQG176
Microsemi Corporation
EP4SGX530HH35C2
Intel