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codice articolo del costruttore | CR5211S-50 |
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Numero di parte futuro | FT-CR5211S-50 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | CR5200 |
CR5211S-50 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 50A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, ±10 V |
sensibilità | - |
Frequenza | DC |
Linearità | - |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | 24V |
Tempo di risposta | 250ms |
Corrente - Alimentazione (max) | 35mA |
temperatura di esercizio | 0°C ~ 50°C |
Polarizzazione | Unidirectional |
Tipo di montaggio | DIN Rail, Panel |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
CR5211S-50 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | CR5211S-50-FT |
L32P100S05BFS
Tamura
L32P100S05FS
Tamura
L32P150S05FS
Tamura
L32P200S05FS
Tamura
L32P300S05FS
Tamura
L32P400S05FS
Tamura
S20S200D15M1
Tamura
S21S180D15JN
Tamura
S22P006S05M2
Tamura
S22P015S05M2
Tamura
XC4010XL-3PQ100C
Xilinx Inc.
XC4062XL-09HQ304C
Xilinx Inc.
A54SX32A-TQG176I
Microsemi Corporation
EP3SE110F1152I4L
Intel
XC6VLX195T-3FFG1156C
Xilinx Inc.
A54SX16A-TQG100M
Microsemi Corporation
A3P1000L-FGG144
Microsemi Corporation
LCMXO2-2000UHE-6FG484C
Lattice Semiconductor Corporation
EP3SE110F780I4L
Intel
EP3C25F324I7N
Intel