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codice articolo del costruttore | CR5210S-300 |
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Numero di parte futuro | FT-CR5210S-300 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | CR5200 |
CR5210S-300 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 300A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC |
Linearità | - |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | 24V |
Tempo di risposta | 250ms |
Corrente - Alimentazione (max) | 35mA |
temperatura di esercizio | 0°C ~ 50°C |
Polarizzazione | Unidirectional |
Tipo di montaggio | DIN Rail, Panel |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
CR5210S-300 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | CR5210S-300-FT |
SCD05PSN
CUI Inc.
SCD05PSR
CUI Inc.
SCD05PUN
CUI Inc.
SCD05PUR
CUI Inc.
SCD10PSN
CUI Inc.
SCD10PSR
CUI Inc.
SCD10PUN
CUI Inc.
SCD10PUR
CUI Inc.
SCD15PSN
CUI Inc.
SCD15PSR
CUI Inc.
M1AGL600V2-FG484I
Microsemi Corporation
A14V25A-VQG100C
Microsemi Corporation
10M50DAF484I7G
Intel
XC2VP7-7FFG896C
Xilinx Inc.
A42MX24-3PQ160
Microsemi Corporation
APA300-FGG144M
Microsemi Corporation
LFEC3E-4QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-6SE-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C4N
Intel
EP20K400CB652I8ES
Intel