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codice articolo del costruttore | CR5210S-100 |
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Numero di parte futuro | FT-CR5210S-100 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | CR5200 |
CR5210S-100 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Per misurare | DC |
Tipo di sensore | Hall Effect, Closed Loop |
Corrente: rilevamento | 100A |
Numero di canali | 1 |
Produzione | Ratiometric, Voltage |
sensibilità | - |
Frequenza | DC |
Linearità | - |
Precisione | ±1% |
Tensione - Fornitura | 24V |
Tempo di risposta | 250ms |
Corrente - Alimentazione (max) | 35mA |
temperatura di esercizio | 0°C ~ 50°C |
Polarizzazione | Unidirectional |
Tipo di montaggio | DIN Rail, Panel |
Pacchetto / caso | Module |
- | |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
CR5210S-100 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | CR5210S-100-FT |
L31S300S05FS
Tamura
L31S400S05FS
Tamura
L31S500S05FS
Tamura
L31S600S05FS
Tamura
L32P050S05BFS
Tamura
L32P050S05FS
Tamura
L32P100S05BFS
Tamura
L32P100S05FS
Tamura
L32P150S05FS
Tamura
L32P200S05FS
Tamura
EX64-TQ100
Microsemi Corporation
A54SX72A-FG484
Microsemi Corporation
A3P600-2FG256
Microsemi Corporation
MPF300TS-1FCVG484I
Microsemi Corporation
XA7S25-1CSGA324Q
Xilinx Inc.
A54SX32A-BG329M
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-4300C-5BG256I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2280E-4M132C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX110DF31C7
Intel
EP3C40F324C6N
Intel