casa / prodotti / Sensori, trasduttori / Sensori magnetici - Interruttori (a stato solido) / BU52274NUZ-ZE2
codice articolo del costruttore | BU52274NUZ-ZE2 |
---|---|
Numero di parte futuro | FT-BU52274NUZ-ZE2 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
BU52274NUZ-ZE2 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Funzione | Omnipolar Switch |
Tecnologia | Hall Effect |
Polarizzazione | Either |
Gamma di rilevamento | ±7.4mT Trip, ±4.3mT Release |
Condizione di test | 25°C |
Tensione - Fornitura | 1.65V ~ 3.6V |
Corrente - Alimentazione (max) | 8µA |
Corrente - Uscita (max) | 500µA |
Tipo di uscita | CMOS |
Caratteristiche | - |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Pacchetto / caso | 4-XFDFN Exposed Pad |
Pacchetto dispositivo fornitore | - |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
BU52274NUZ-ZE2 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | BU52274NUZ-ZE2-FT |
S-5716ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725HCBH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725JCBH0-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
A3P015-2QNG68I
Microsemi Corporation
XC4005XL-1PQ100I
Xilinx Inc.
XC3S400-4FT256C
Xilinx Inc.
XC2VP4-6FGG456I
Xilinx Inc.
5SGXEA5K2F40C1N
Intel
M1AFS1500-1FGG676I
Microsemi Corporation
LFXP2-17E-6QN208C
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2-4000HE-5BG332I
Lattice Semiconductor Corporation
EP3SE110F780I4LN
Intel
EP20K1000CB652C7N
Intel