casa / prodotti / Sensori, trasduttori / Sensori magnetici - Interruttori (a stato solido) / BU52274NUZ-ZE2
codice articolo del costruttore | BU52274NUZ-ZE2 |
---|---|
Numero di parte futuro | FT-BU52274NUZ-ZE2 |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
BU52274NUZ-ZE2 Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Funzione | Omnipolar Switch |
Tecnologia | Hall Effect |
Polarizzazione | Either |
Gamma di rilevamento | ±7.4mT Trip, ±4.3mT Release |
Condizione di test | 25°C |
Tensione - Fornitura | 1.65V ~ 3.6V |
Corrente - Alimentazione (max) | 8µA |
Corrente - Uscita (max) | 500µA |
Tipo di uscita | CMOS |
Caratteristiche | - |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Pacchetto / caso | 4-XFDFN Exposed Pad |
Pacchetto dispositivo fornitore | - |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
BU52274NUZ-ZE2 Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | BU52274NUZ-ZE2-FT |
S-5716ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725HCBH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5725JCBH0-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDH2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACDL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNH1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL1-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
S-5712ACNL2-I4T1U
ABLIC U.S.A. Inc.
XC7A12T-3CSG325E
Xilinx Inc.
M2GL025-1VF400I
Microsemi Corporation
ICE65L01F-LCB132I
Lattice Semiconductor Corporation
XC7K325T-1FFG900CES9937
Xilinx Inc.
XC7A200T-3FFG1156E
Xilinx Inc.
A42MX24-2PQ160
Microsemi Corporation
LCMXO2-4000HE-5FTG256I
Lattice Semiconductor Corporation
EPF10K50EQI240-2N
Intel
EP4SGX110FF35I3
Intel
EP4SGX290HF35C3
Intel