casa / prodotti / Circuiti integrati (circuiti integrati) / Logica - Logica speciale / 8V182512IDGGREP
codice articolo del costruttore | 8V182512IDGGREP |
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Numero di parte futuro | FT-8V182512IDGGREP |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | - |
8V182512IDGGREP Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Active |
Tipo di logica | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Tensione di alimentazione | 2.7V ~ 3.6V |
Numero di bit | 18 |
temperatura di esercizio | -40°C ~ 85°C |
Tipo di montaggio | Surface Mount |
Pacchetto / caso | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Pacchetto dispositivo fornitore | 64-TSSOP |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
8V182512IDGGREP Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | 8V182512IDGGREP-FT |
MC100LVEL16MNR4G
ON Semiconductor
MC100EP16MNR4G
ON Semiconductor
MC100EP16TMNR4G
ON Semiconductor
MC100EP16VAMNR4G
ON Semiconductor
MC100EP16VCMNR4G
ON Semiconductor
MC100LVEP16MNR4
ON Semiconductor
MC10EP16VAMNR4G
ON Semiconductor
SY100EL16VKG-TR
Microchip Technology
SY100EL16VKG
Microchip Technology
SY100EL16VFKG
Microchip Technology
AT6003A-2AC
Microchip Technology
LFXP3E-3T144I
Lattice Semiconductor Corporation
AGL400V2-FGG484
Microsemi Corporation
APA600-FGG256M
Microsemi Corporation
ICE65L01F-LCB132I
Lattice Semiconductor Corporation
EP1M120F484C7
Intel
A42MX16-2PL84I
Microsemi Corporation
LFEC20E-5F672C
Lattice Semiconductor Corporation
EP1C6Q240C8N
Intel
EP1S30F1020C7
Intel