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codice articolo del costruttore | LAL03VB100K |
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Numero di parte futuro | FT-LAL03VB100K |
SPQ / MOQ | Contattaci |
Materiale di imballaggio | Reel/Tray/Tube/Others |
serie | LA, L Type |
LAL03VB100K Stato (ciclo di vita) | Disponibile |
Stato parte | Obsolete |
genere | - |
Materiale: core | - |
Induttanza | 10µH |
Tolleranza | ±10% |
Valutazione attuale | 160mA |
Corrente - Saturazione | - |
Schermatura | Unshielded |
Resistenza DC (DCR) | 2.5 Ohm Max |
Q @ Freq | 50 @ 7.96MHz |
Frequenza - Autorisonante | 21MHz |
Giudizi | - |
temperatura di esercizio | -25°C ~ 105°C |
Frequenza di induttanza - Test | 7.96MHz |
Caratteristiche | - |
Tipo di montaggio | Through Hole |
Pacchetto / caso | Axial |
Pacchetto dispositivo fornitore | Axial |
Dimensione / Dimensione | 0.102" Dia x 0.276" L (2.60mm x 7.00mm) |
Altezza - Seduto (max) | - |
Paese d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAL03VB100K Peso | Contattaci |
Numero parte di ricambio | LAL03VB100K-FT |
LAL03NAR47M
Taiyo Yuden
LAL03NAR56M
Taiyo Yuden
LAL03NAR68M
Taiyo Yuden
LAL03NAR82M
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LAL03T102K
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LAL03T330K
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LAL03TA100K
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LAL03TA101K
Taiyo Yuden
LAL03TA102J
Taiyo Yuden
LAL03TA102K
Taiyo Yuden
XC3S500E-4VQG100I
Xilinx Inc.
A54SX32A-2TQG176I
Microsemi Corporation
M2GL025T-1FGG484
Microsemi Corporation
10AX032E3F29I2SG
Intel
EP4CGX22BF14C8N
Intel
EP4SE530H40I3N
Intel
5SGXEA4H2F35I2N
Intel
A40MX02-1PQ100M
Microsemi Corporation
LFEC10E-4F256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX130GF40C4NES
Intel